摘要: 现状分析 以我公司的一款斜齿片齿轮为例,如图1所示,内孔上的单键对称度有两个基准A-B,基准A是内孔,基准B是平行端面某一距离的截面上分度圆的齿槽宽或齿厚(本例中距离为14.3mm). 而斜齿片齿轮的双基准单键对称度测量主要靠三坐标测量,构造键槽的两个被测侧面为特征组的被测元素,构建内孔和此截面上齿槽宽或齿厚的平面基准元素,评价对称度.操作工拉完单键,送三坐标测量,测量整个过程需30m i n,效率极低,且加工过程中无法自检,出现不合格人情况无法及时检查调整,造成浪费.